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基于CBPSO的板级电路测试性设计优化方法研究

Optimizing method of board level circuit design for testability based on chaos particle swarm optimization

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基金项目

作者	单位
吕晓明	军械工程学院
刘晓芹
黄考利
刘耀周

中文摘要

基于边界扫描的板级电路在测试性改善一定条件下，设计复杂性最小化问题属于组合优化问题，同时也是NP-难题.针对该组合优化问题提出了基于混沌二进制粒子群优化的求解方法.该方法在二进制粒子群优化的基础上，对当前最佳粒子以变概率进行混沌优化，引导粒子跳出局部最优继续在全局范围内搜索，从而克服二进制粒子群的“早熟”收敛.通过实例验证，该算法在优化效果、搜索效率等方面均获得了较好的结果.事实证明，该算法能有效地应用于板级电路的测试性设计优化.

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